В журнале освещаются результаты теоретических и экспериментальных исследований в области физики, химии и механики поверхности твердых тел по следующим направлениям: 1.Синхротронное излучение и нейтронные методы для исследований в области физики поверхности и физики конденсированного состояния. 2.Физико-химические и механические процессы, состав, структура и свойства поверхности твердого тела. 3.Электронно-микроскопические исследования 3.Методы получения и исследования поверхности, тонких пленок, границ раздела и приповерхностных объемов кристалла(рентгеноструктурные и рентгеноспектроскопические , применение синхротронного излучения, нейтронографические, электронная, ионная и молекулярная спектроскопия, электронная микроскопия , атомно-силовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопияи др.). 4.Технология поверхности - формирование тонких слоев и новые процессы обработки поверхности (лазерная, нейтронографическая, синхротронное излучение, рентгеноструктурная, ионная и др.). Журнал публикует экспериментальные и теоретические оригинальные статьи и обзоры, а также содержит информацию о работе различных конгрессов, конференций, симпозиумов и семинаров по физике, химии поверхности. Журнал рассчитан на широкие круги научных работников, инженеров, преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов физических и инженерно-физических факультетов, интересующихся вопросами физики, химии и механики поверхности твердых тел и физике конденсированного состояния, а также их изменение в зависимости от облучения и других воздействий.
